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产品概要

差动型光纤位移仪！可窄而深的位置变位测量！
传感探头靠近在测量位置，就可测量微小变位。不需工件反射率补充的麻烦工程。
ATP203、新探头出来！升级了反应性和分辨率。
ATW200的特点

差动型光纤位移仪

  • 3 MHz的响应性能！
  • 测量纳米单位级分辨率！不是速度，是真真的变位测量。低频微小变位也会测量！
  • 通过可变低通滤波器，可找适合反应速度和分辨率。
  • 设置很简单！把探头插进测量间隙，进行反射率补充就可测量！
应用案例

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测量原理

ATW200是差动型光纤位移仪!
敝司开发的差动型光纤位。抑制测定对象的反射率影响并实现纳米级的分辨率和3 MHz的反应性。


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纤束的分于投光纤、受光纤A、受光纤B（参考图1）。
光源通过投光纤投射（参考图2）、射出的光纤在测量面反射到受光纤。
此时反射光变为环型、其环型径对测定差距有变化。受光纤A和B和入射的光量PA、PB的关系为（参考图3）。
和算信号(PA+PB)为全反射光量，差信号（PB-PA）为差距（参考图4）。
差信号除和信号的信号是跟测定对象物的反射率无关系（参考图5）


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放大器｜插件模块｜灵敏度表

放大器
型号 ATW200
方式 直流放大型
响应性能(Hz)
设定响应频率		 100、1 K、10 K、100 K、1 M、PASS (3 M)
放大倍率 1倍、2倍、5倍、10倍、20倍、50倍
显示 4 1/2位数字电压表示
模拟输出 ±10 V
电源电压 AC 100 ~ 240 V(±10%)　50/60 Hz 或DC 24 V 1.2 A
使用环境 0 ～ 45℃  20 ～ 85％ RH(无结露)
 


插件模块
模块NO. ATP201 ATP202 ATP203
光源 SLD(超级发光二极管)(λ = 830 nm)
纤维长度 1 m(标准)
探头尖端耐热温度 0 ～ 150℃ 0 ～ 70℃ 0 ～ 150℃
测量点直径(mmφ) 約 0.3 約 1.5 約 0.3
测量范围(μm) 約 20 約 300 約 12
距离(μm) 約 80 約 700 約 50
基本灵敏度(μm/V)

約 2 約 30 約 1.3
 
灵敏度表
倍率 ATP201 ATP202 ATP203
3 MHz 12 nm 1.2 μm 2.5 nm
1 MHz 7 nm 1 μm 2.3 nm
100 kHz 1.6 nm 0.3 μm 1.0 nm
10 kHz 0.7 nm 0.2 μm 0.5 nm
1 kHz 0.6 nm 0.2 μm 0.4 nm
100 Hz 0.5 nm 0.2 μm 0.3 nm
 

● 也可进行光纤线延长，或者防止前端弯曲加工等特殊加工。请咨询商谈。

● 以上特性是平均值的表示。由探头制作的差异，有产生差异的可能。

 



关于LED、荧光、液晶等相关显示部分，因制造工程以及材质等原因，也许会发生微妙差别。请了解，谢谢。