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产品概要

ATW200、差动型光纤位移仪。是根据光纤量程,除去测量物的反射率变化的影响。
适用于SPM的悬臂位移测量·压电陶瓷产品的位移测量·LCD玻璃的位移测量·硬盘磁头的振动分析等微小位移测量。
测量头很小,也适用于透明体的测量。
ATW200的特点

无需对电极的反射率校准! 差动型光纤位移仪

  • 3MHz的响应性能! 适用于超声波振动器和高频率振动的测量。
  • 由于是测量实际位移,不是测量速度,低频的微小变化也可测量!
  • 设定简单!不需要通常光纤位移测量仪的对电极反射率校准。将探头靠近对电极,只需按下CAL开关就可开始测定。
  • 有可变低通滤波!
应用案例

ATW200的原理

ATW200测量探头,是在多束光纤的中心配置照射纤维(Illum natingFiber),并且在中心的周围配置受光纤维A(Receiving FiberA),和受光纤维B(Receiving FiberB)。
从光源射出的光线射入受光纤维,射入光通过在光纤内进行重复全反射从而到达测量端,对电极呈圆锥状射出。
对电极的反射光,成为测量探头上的光环,对受光纤维A和B进行投射。

如图1所示,光环的直径与探测端到测量物之间的距离g(间隙)呈比例变化。根据直径的变化获得受光纤维A及B入射的光量PA,PB的差。
图2对相应于g的PA,PB的变化模式进行表示。 PA,从窄的间隙上升,而PB是在一定的间隙后上升。图中PB-PA的WR所示部分是能够进行位移测量的部分。在WR的领域下PB+PA几乎不变化。
PB-PA和PB+PA都与对电极的反射率成比例,但是,(PB-PA)/(PB+PA)则不依存于对电极的反射率值。 ATW200采用模拟除法器,除去对电极的反射率的影响。
图3所示是透明材料的光路。如果里面反射的光是在XB外侧,里面不受干扰。与激光的高强度光作用,对玻璃等透明体表面也可准确地检测。

放大器
型号 ATW200
方式 直流放大型
响应性能(Hz)
设定响应频率
100、1K、10K、100K、1M、PASS (3M)
放大倍率 1倍、2倍、5倍、10倍、20倍、50倍
显示 4 1/2位数字电压表示
模拟输出 ±10VDC
电源电压 AC 100V 50/60Hz 或DC24V 1.2A
使用环境 0~45℃  20~85%RH(无结露)
 


插件模块
模块NO. ATP201 ATP202 ATP203
光源 SLD(超级发光二极管)(λ=830nm)
纤维长度 1m(标准)
探头尖端耐热温度 0~150℃ 0~70℃ 0~150℃
测量点直径(mmφ) 約0.1 約0.5 約0.1
测量范围(μm) 約20 約300 約12
距离(μm) 約80 約700 約50
基本灵敏度(μm/V)

約2 約30 約1.3
 
灵敏度表
倍率 ATP201 ATP202 ATP203
3MHz 12nm 1.2μm 2.5nm
1MHz 7nm 1μm 2.3nm
100kHz 1.6nm 0.3μm 1.0nm
10kHz 0.7nm 0.2μm 0.5nm
1kHz 0.6nm 0.2μm 0.4nm
100Hz 0.5nm 0.2μm 0.3nm
 

● 也可进行光纤线延长,或者防止前端弯曲加工等特殊加工。请咨询商谈。

● 以上特性是平均值的表示。由探头制作的差异,有产生差异的可能。