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製品概要

光ファイバーを介して測定対象物に光を照射し、その反射光を検出することにより変位や振動の変化を高速で非接触に行うことができる装置です。
光を利用して測定するため、測定対象物に全く負荷を与えることなく、かつ磁界や電界から影響を受けることもありません。
小型化と簡便性を追求した「PM-E」は、研究開発および各種産業分野での幅広い要求に応える製品です。
  • ・完全非接触で振動、変位、表面状態などの計測に幅広く利用できます
  • ・電磁ノイズに強く、微小スポット測定が可能です
  • ・フロントスロープとバックスロープの両方が使えるため、高感度とワイドレンジを両立できる
  • ・低価格でメンテナンスが容易かつ迅速に行えます


アプリケーション

測定原理

PM-Eは、光ファイバーを介して測定対象物に光を照射し、反射光を検出することにより、物体の変位を非接触で簡便に測定することができる装置です。測定対象物からの反射光量は、測定対象物と光ファイバープローブ端面間の距離(ギャップ)に対し下図のように変化します。このとき図中Ⓑ(フロントスロープ)およびⒹ(バックスロープ)の領域では、反射光はギャップに対してほぼ直線的に変化しますので、この領域を変位測定に利用します。
1台の装置で2つの変位検出特性を持つので、高分解能を必要とする測定にはフロントスロープを、広い測定範囲を必要とする場合にはバックスロープをご利用いただけます。また、Ⓐ(光学ピーク位置)は変位に対する感度が最も低いため、測定対象物の表面状態や欠陥などの検出にご利用いただけます。

仕様

アンプユニット
応答性 100 Hz, 1 K, 10 K, 200 KHz切換※
表示 3・1/2桁デジタル電圧表示
アナログ出力 -10 ~ +10 V
電源電圧 AC 100 ~ 240 V(±10%)(フリー電源 50/60 Hz)
外形寸法 120W×53H×133.4D mm
 
ファイバープローブ
光源 タングステンランプ
ファイバー長 1 m(標準)
ファイバーバンドル ランダム型、ハーフ型、同心型
 
※反射率、プローブの種類によって応答性は変化します。弊社営業部までお問い合わせください。

プローブ特性表
プローブタイプ PM-05CE PM-15RE PM-15CE PM-30RE PM-30HE
プローブ外径 0.5 mm 1.5 mm 1.5 mm 3.0 mm 3.0 mm
プローブスポット径 0.25 mm 1.1 mm 1.1 mm 2.5 mm 2.5 mm
フロントスロープ特性
基本感度 12 μm/V 14 μm/V 62 μm/V 14 μm/V 220 μm/V
リニアリティ 30 μm 70 μm 300 μm 70 μm 800 μm
プローブセット間隔 70 μm 60 μm 380 μm 60 μm 950 μm
最小ターゲット径 0.4 mm 1.2 mm 1.5 mm 2.6 mm 3.6 mm
バックスロープ特性
基本感度 70 μm/V 300 μm/V 300 μm/V 700 μm/V 850 μm/V
リニアリティ 250 μm 700 μm 900 μm 2000 μm 3000 μm
プローブセット間隔 450 μm 1000 μm 2000 μm 1900 μm 6000 μm
最小ターゲット径 0.7 mm 2.1 mm 3.0 mm 5.0 mm 9.1 mm
光学ピーク位置 250 μm 350 μm 1250 μm 500 μm 4000 μm

上記特性は平均的な数値です。プローブの固有特性により差異が生じることがあります。

プローブ図面
ファイバー長UP、先端曲げ加工など特注ファイバープローブも制作可能です。御相談下さい。
PM-05CE PM-15RE, PM-15CE PM-30RE, PM-30HE
φA φ0.5 φ1.5 φ3.0
φB φ0.25 φ1.1 φ2.5



LED、蛍光表示管、液晶ディスプレイなどの表示機器は、製造の工程やロットによって微妙な色調のバラツキが生じる恐れがあります。予めご了承をお願いいたします。



ダウンロード

製品カタログ(PDF)
PM-Eカタログ(564 KB)
取扱説明書(PDF)
PM-Eマニュアル(591 KB)
外観図
DXF
(ZIP)
PDF
サポートツール
ソフトウェア
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